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<i style='color:red'>晶圆级芯片</i>可靠性测试后高电阻值异常如何询失效点?

晶圆级芯片可靠性测试后高电阻值异常如何询失效点?

所谓的WLCSP晶圆级芯片尺寸封装,全名WaferLevelChipScalePackaging,是指,直接将整片晶圆级封装制程完后,再进行切割,切完后封装体的尺寸等于原来晶粒的大小,后续利用重分布层(RDL),可直接将I/O拉出阵列锡球与PCB做连接。

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